NANO CHINA携手SAI参展第25届国际二次离子质谱大会（SIMS 25）

NANO CHINA携手SAI 参展第 25 届国际二次离子质谱大会（SIMS 25）

第 25 届国际二次离子质谱大会（SIMS 25）将于 2026 年 10 月 25-30 日在广州举行。这是 SIMS 国际会议首-次在中国举办。英国 SAI 公司（Scientific Analysis Instruments Ltd.）确认参展，将展示 MiniSIMS 台式二次离子质谱仪在工业质控与研发中的应用成果。

关于 MiniSIMS

MiniSIMS 是 SAI 研发的台式二次离子质谱仪，曾获 R&D100 奖等国际奖项。它将传统大型超高真空 SIMS 的能力集成于桌面设备中，单样品检测成本最高可降低 90%。设备支持三种模式：静态 SIMS（表面单分子层分析）、成像 SIMS（微米级化学分布成像）及动态 SIMS（深度剖面分析），适用于表面污染检测、涂层厚度监控和失效分析等场景。

典型用户

MiniSIMS 的全球用户包括：

Infineon（英飞凌）—— 用于半导体封装失效分析

Siemens（西门子）—— 用于汽车材料质控

Hitachi（日立）—— 用于电子 / HDD 盘片分析

NASA（美国宇航局）—— 用于航天材料分析

3M—— 用于粘合材料分析

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那诺中国 ——SAI 中国官-方授权总代理商

那诺中国有限公司（Nano China Co.,Ltd.）是 SAI 在中国的官-方授权总代理商，负责 SAI 产品在中国市场的推广、销售及技术支持。公司总部位于上海，致力于为国内用户提供高性价比的表面分析解决方案。

本次大会上，SAI 将重点展示 MiniSIMS 在工业质控领域的应用成果，包括表面污染快速识别、涂层厚度与均匀性监控、失效分析等。

欢迎莅临 SAI 展位（展位号：H）交流，了解台式 SIMS 如何助力您的质量管控。