台式飞行时间二次离子质谱仪，凭借轻量化设计、全能检测模式、低成本检测优势，斩获国际R&D100创新大奖及欧美多项行业权-威殊荣，是一款适配工业化常规检测与科研基础研究的新一代高性能表面分析仪器。

飞行时间二次离子质谱（ToF-SIMS）是目前材料表面分析领域极-具权-威性的核心检测技术，凭借超高的表面灵敏度、极低的采样深度、可同步分析无机元素与有机组分等突出优势，广泛应用于材料表面成分表征、界面分析、表面污染检测、深度剖面剖析等场景，是导电、绝缘材料通用的高-端表面化学分析工具。

设备全面兼容静态SIMS、成像SIMS、动态深度剖面SIMS三大工作模式，一台设备即可实现表面成分定性定量分析、微区二维成像、薄膜深度剖析、成分梯度检测等全功能检测需求，覆盖绝大多数材料表面分析场景，无需多设备搭配使用。

摒弃传统设备庞大的机身结构，采用紧凑型台式一体化设计，对实验室场地空间、真空配套、供电环境等配套设施要求极低，普通常规实验室即可安装使用，无需专属超净实验室与复杂配套系统，大幅降低设备落地门槛。

依托优化的光路结构与高通量分析算法，检测效率大幅提升，单样品检测成本较传统超高真空SIMS设备最高降低90%，彻-底解决传统SIMS无法用于大批量、常规化检测的行业难题，完-美适配工业生产线常态化质量管控需求。

区别于XPS、EDS等常规表面分析设备仅能检测无机元素的局限性，MiniSIMS可同时完成样品表面所有无机元素、有机污染物、高分子化合物的同步分析，通过智能算法消除元素与有机信号的相互干扰，有效降低检测检出限，谱图分辨率更高、检测结果更精准，可精准识别微量表面污染物。

设备内置千余种主流材料专属SIMS质谱数据库，覆盖金属、高分子、陶瓷、薄膜、催化剂、粘合剂等各类化工、电子材料，可快速匹配、识别未知化合物与未知成分，无需人工反复标定，大幅提升分析效率。