二次离子质谱法是一种高效的分析技术，利用化合物的离子化过程及其质量分析，以确定待测化合物的分子量、分子式和结构特征。质谱仪作为该方法的重要组成部分，通过将离子的质量进行有效分离，并依据电荷与质量比率输出至检测器，在此被探测并转换为数字信号。简介在质谱分析中，有三种常见的质谱仪离子分析器可用于离子的分离。四极杆质谱仪飞行时间质谱仪磁扇形质量分析仪四极杆质谱仪直流偏压会使所有带电分子加速并远离中心线，其速度与它们的电荷与质量比成正比。当这些分子的轨迹偏离过大时，它们将撞击金属棒或...

TOF-SIMS（TimeofFlightSecondaryIonMassSpectrometry）飞行时间二次离子质谱仪的基本组件包括一次离子束，和用于样品深度剖析的离子束。主离子束被脉冲化以供飞行时间质谱仪进行分析使用。铋基液态金属离子枪（LMIGs）是商业ToF-SIMS中常用的离子源。与金等其他LMIG源相比，铋基离子源可以在较低的温度下工作，并能产生用于分析的离子簇（例如Bi3+）。这些离子束可以紧密聚焦，以实现高空间分辨率(亚表面分析可通过在双束模式操作来实现，包...

全自动磁控溅射系统是一种利用磁场控制等离子体溅射技术在基材上沉积薄膜的材料制备设备。广泛应用于半导体、光电、材料科学、装饰镀膜等领域，用于生产各种功能性和装饰性薄膜。通过精确控制溅射过程中的各种参数，实现了高效率、高稳定性和高质量的薄膜沉积。工作原理基于溅射效应，即在真空环境下，通过电场加速的气体离子（通常是氩离子）轰击靶材，使靶材原子或分子被轰击出来，然后沉积在基材上形成薄膜。磁控部分则是通过靶材背后的磁场设计，有效延长了电子在等离子体中的运动路径，提高了气体离化率和溅射效...

静态SIMS是一种非常灵敏的表面分析技术，能在只消耗样品单层一小部分的情况下，获得详细的质谱图。被分析的分子来自固体表面前几层，这对于探讨材料关键区域例如附着力或催化等性质至关重要。Kore公司的TOF-SIMSSurfaceSeer系列产品为科研和工业领域提供了高性价比的表面分析解决方案。以下数据展示了SurfaceSeer仪器在材料研究和分析方面的一些优势。实验质量分辨率和准确性图1.污染铝接头近来，仪器的质量分辨率和准确度均已经提高到2000（M/ΔM）以上。上图展示了...

飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）是一种表面分析技术，它将脉冲一次离子束聚焦到样品表面，在溅射过程中产生二次离子。分析这些二次离子可提供有关样品表面的分子、无机和元素种类的信息。例如，如果表面吸附了有机污染物（如油），TOF-SIMS将揭示这些信息，而其他技术则难以实现，特别是在污染物含量极低的情况下。由于TOF-SIMS是一种测量技术，因此通常可以检测到元素周期表中的所有元素，包括H。此外，这种分析可以提供质谱信息;样品上XY维度的图像信息;以及Z方向的深度剖面信息到...

什么是TOFSIMS?它可以应用于哪些领域？能提供哪些信息？哪些样品适用（哪些不适用）？在这一系列文章中，我们将解答所有这些问题，以及更多探讨。飞行时间二次离子质谱法（ToFSIMS）是一种用于研究固体表面和薄膜的三维化学组成的表面分析技术。聚焦的一次离子束轰击目标表面，产生中性原子/分子、二次离子和电子。二次离子通过飞行时间质谱仪进行收集和分析。质谱仪通过精确测量离子到达探测器所需的时间(即“飞行时间”)来测量离子的质荷比(m/z)。通过扫描一次离子束在样品表面的区域，可以...

二次离子质谱仪是一种强大的表面分析工具，它能够在微观层面上提供关于材料成分和结构的详细信息。它的应用范围广泛，从材料科学到生物医学，从半导体工业到地球科学。尽管SIMS具有许多优势，但它的操作和维护相对复杂，需要专业的技术人员和持续的培训。二次离子质谱仪的技术原理：1.一次离子束：一次离子束是由离子源产生的高能离子，通常使用铯离子，它们被加速到高能量并聚焦成细小的束流。2.二次离子产生：当一次离子束轰击样品表面时，会将表面原子或分子激发为离子，即二次离子。3.质谱分析：产生的...

空间环境模拟试验设备是一种高精尖的实验室设备，旨在模拟太空中的特殊环境条件，如超低温、高真空、太阳辐射、微重力、宇宙射线、原子氧侵蚀等。这些设备对于研发和测试航天器、卫星、探测器以及其他将要在太空中使用的材料和系统至关重要。空间环境模拟试验设备应用领域：1.航天器研制：对整星或部件进行环境试验，验证其性能和可靠性。2.材料研究：测试新材料在太空环境下的性能，为航天器选材提供依据。3.生命科学：研究生物组织在太空环境下的变化，为载人航天提供支持。4.物理科学实验：在模拟的太空环...