• 产品名称:飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)

    产品型号:SurfaceSeer S

    产品报价:

    产品特点:KoreSurfaceSeerS在飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)系列中,是一款高性价比且经久耐用的产品。它是研究样品表面化学成分的理想选择,适用于研发和工业质量控制应用。

    SurfaceSeer S飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)的详细资料:

    Kore SurfaceSeer S飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS 系列中,是一款高性价比且经久耐用的产品。它是研究样品表面化学成分的理想选择,适用于研发和工业质量控制应用。


    飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS是非常灵敏的表面分析手段。其凭借质谱分析、二维成像分析、深度元素分析等功能,广泛应用于医学、细胞学、地质矿物学、半导体、微电子、物理学、材料化学、纳米科学、矿物学、生命科学等领域。




    Kore SurfaceSeer S型号的飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS)使用的是5keV Cs+离子束(可选惰 性气体Ar+),该离子束是脉冲式的,以限度地减少连续离子束可能造成的表面损伤。 在每100µs TOF 循环中,该离子枪的脉冲时间仅为60ns,因此,主光束提供的电流比连续打开时少1000倍以上。典型的10s实验时间所产生的电流仅相当于几毫秒的连续光束电流。 要达到所谓的“静态SIMS"极限,需要在一个点上进行几分钟的分析,在这个点上,表面损伤在数据中变得清晰可见(取决于焦点和光 束电流)。尽管离子剂量较低,这款TOF分析仪还是非常高效的,这就说明了它具有较高的二次离子数据速率(即使在离子产率相对较低 的聚合物上,也通常为5000 c/s)。


    SurfaceSeer S 仪器特点:

    • 配备5keV Ar+/Cs+脉冲式离子束,以限度地减少连续离子束可能造成的表面损伤,实现样品“无损"分析;

    • 针对工业领域的低成本TOF-SIMS仪器;

    • 均适用于导电物体表面和绝缘物体表面的分析 ;

    • 可在1~2min内实现高速率的正负质谱分析;

    • 质量分辨率可达 >2,500 m/δm (FWHM);

    • 适用于导电物体表面和绝缘物体表面的分析。


    SurfaceSeer S 应用领域:

    • 表面化学

    • 黏附力

    • 分层

    • 印刷适性

    • 表面改性

    • 等离子体处理

    • 痕量分析(表面ppm)

    • 催化剂

    • 同位素分析

    • 表面污染




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